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福島 奨; 大道 敏彦; 前多 厚; 半田 宗男
Journal of Nuclear Materials, 116, p.287 - 296, 1983/00
被引用回数:31 パーセンタイル:92.26(Materials Science, Multidisciplinary)化学量論的〔(U,Pu),Rx〕O固溶体(R=Nd,Eu;x=0~0.1)の熱伝導度をレーザフラッシュ法によって700~1900°Kで測定し、R濃度依存性を調べた。(1)熱伝導度の温度変化は700~1550Kでフオノン伝導の近似式:K=(A+BT)を満足した。(2)熱伝導度はR濃度が増大するとともに次第に減少した。しかし、R濃度依存性は温度が増大するとともに減少した。(3)格子欠陥熱抵抗(=A)のR濃度変化は、U、U,PuおよびRイオンをフオノンの散乱中心と考えた格子欠陥モデルに基づく計算結果とよく一致した。(4)格子欠陥熱抵抗におよぼす格子歪の効果は、質量差の効果に比べて約15倍大きい。(5)格子歪のパラメータ()は(U,Pu,Nd)Oで98、(U,Pu,Eu)Oで103であった。